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游标卡尺的基本发展过程

游标卡尺的基本发展过程如下：

现代测量价值的游标卡尺一般认为是由法国人约尼尔·比尔发明的。他是一名数学家，在他的专著《新四分圆的结构、利用及特性》中记述了游标卡尺的结构和原理，而他的名字Vernier变成了英文的游标一词沿用至今。1851年由美国Brown & Sharpe 公司将Nonuth 及 Vernier 两个构想制造出支游标卡尺，后由德国Masuer兵工厂加以改良制造，是工程上应用广的量具。1854年荷、法、德、英、都普遍用上了游标卡尺。1856年日本也普及了游标卡尺，游标卡尺的制造技术逐渐更新迅速提高，使之成为了通用性的长度。19世纪中叶，美国机械工业快速发展，美国夏普机械有限公司创始人与1985年秋，成功加工出了世界上批四把0-4英寸的游标卡尺，其精度达到了0.001毫米。

千分尺示值误差是反映

千分尺示值误差是反映千分尺精度的综合性指标，是各种故障和缺陷的综合反映。比如：测量面的平行度，平面度不合格；测微螺杆的轴向窜动或径向摆动；测力过大或过小；刻线不以及其它结构上的各种缺陷都会造成示值误差不合格。按照千分尺修理顺序，排除了上述故障之后，仍然不能解决示值误差的问题时，就要考虑对测微螺杆进行修理。调修前应检查各点示值误差的分布情况，以便找出磨损部位和确定研磨量。通常情况下，凡示值误差为正值时，此处的螺纹磨损较少；凡示值误差为负值时，此处的螺纹磨损较多。经验表明：螺纹转动较“紧”的地方，示值误差为正值；螺纹转动较“松”的地方，示值误差为负值。因此，哪个部位示值误差是正值，就多研磨哪个螺纹，使测微螺杆转动时全程松紧程度一致，从而消除不均匀磨损造成的示值误差。

测微螺杆轴向串动和径向摆动的修理外径千分尺

测微螺杆轴向串动和径向摆动的修理外径千分尺在经过长期使用后，必然会使测微螺杆与螺纹轴套的螺纹产生磨损， 引轴向串动。减小轴向串动的方法是旋进调节螺母至适当位置。同时，弓形架的导向光孔与微分丝杆磨损后形成径向间隙，造成孔轴配合松动，导致径向摆动增大。要减小径向间隙，一般可采用对导向光孔镶套或缩孔的方法。